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- 日本拓普康topcon2維分光輻射計 SR-5100
日本拓普康topcon2維分光輻射計 SR-5100以非破壞?非接觸的方式,測量光源的光譜特性,材料分光穿透率及物體的分光反射率特性,擁有高分辨率(500萬(wàn)像素)高量程(170億cd/m2) 透過(guò)每1nm的分光特性測量,在客戶(hù)產(chǎn)品質(zhì)量維持上做出貢獻。廣泛應用LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及關(guān)聯(lián)材料等的亮度?色度、分光光譜的評價(jià),汽車(chē)儀表盤(pán)及內外裝照明的發(fā)光分布特性、分光光譜等等
- 更新日期:2024-01-17
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